什么是散射計(Scatterometer)？
散射計是一種精確的測量設備，它能傳輸微波能量，并讀取從目標表面散射回來的光的反射，以獲得尺寸數據。"后向散射"光可以被讀取為目標表面成像的圖形或彩色圖疊加，因此可以進行非常精確的觀測和測量。這項技術在實驗室、實...
散射計是一種精確的測量設備，它能傳輸微波能量，并讀取從目標表面散射回來的光的反射，以獲得尺寸數據。"后向散射"光可以被讀取為目標表面成像的圖形或彩色圖疊加，因此可以進行非常精確的觀測和測量。這項技術在實驗室、實地和衛星上被用于許多科學、工業和軍事應用。一些應用包括測量海洋波高和洋流，以確定風向和速度，用于海洋洋流分析和監測；此外，散射測量可以測量地形、全球氣候和天氣事件，精密微電路和納米技術的構建。
散射計可以測量地形。
散射計測量在不利條件下進行，取代了不精確的技術，這些技術可以被從云層覆蓋到光學設備缺陷的不規則性所阻礙。使用微波脈沖提供信號和噪聲的精確反饋，從而提供清晰、可靠的，以及可重復的數據收集。從這項技術獲得的數據為包括海洋工業在內的許多領域的科學家帶來了新的研究領域，其中散射測量提供了對天氣模式、漁業、海洋安全和全球氣候的洞察。
使用光學探測器不同波長的激光、散射計可以確定表面和底層基板的光學特性。地基技術可以利用拋物面反射器、射頻（RF）子系統、中頻（IF）電子學，以及數據采集單元。這些系統可以監測來自森林、土壤和植被等地形的后向散射數據
在制造業中，散射計用于半導體的制造，有時需要在原子水平上進行測量。半導體具有許多需要精確校準到納米級的層。計量學，或測量系統的研究和開發，已經包含了散射測量學，其性能優于即使是用強大的顯微鏡進行的成像疊加技術，工程師們也不用疊加圖像，而是將不同波長的光散射到半導體晶圓上，并使用軟件和算法測量它們的雙向反射系數，這樣就可以精確測量微小的失調，而不必依賴于不規則的顯微鏡光學或操作。
散射計技術允許通過仔細分析衍射光（與周期性散射表面的線型變化相比）對材料或表面進行快速、無損的分析。這項技術被放置在許多監測均勻雷達橫截面或"條帶"的衛星上地球表面的。再加上繪圖技術、通訊系統和其他氣象或搜救服務，這使得從土壤濕度到火山事件的一切都能在精確的尺寸變化中清晰地顯示出來。
雙向反射分布函數（BRDF）描述了光學、熱力學中實際表面的光反射的材料特性，和計算機科學。像圓頂散射計這樣的創新允許在多個入射角測量多個衍射，包括從天頂和方位角散射的光。這允許在讀取散射結構時更高的靈敏度，允許在更短的時間內獲取更多的數據。
散射計可以測量地形。散射計測量在不利條件下進行，取代了不精確的技術，這些技術可以被從云層覆蓋到光學設備缺陷的不規則性所阻礙。使用微波脈沖提供信號和噪聲的精確反饋，從而提供清晰、可靠的，以及可重復的數據收集。從這項技術獲得的數據為包括海洋工業在內的許多領域的科學家帶來了新的研究領域，其中散射測量提供了對天氣模式、漁業、海洋安全和全球氣候的洞察。
使用光學探測器不同波長的激光、散射計可以確定表面和底層基板的光學特性。地基技術可以利用拋物面反射器、射頻（RF）子系統、中頻（IF）電子學，以及數據采集單元。這些系統可以監測來自森林、土壤和植被等地形的后向散射數據
在制造業中，散射計用于半導體的制造，有時需要在原子水平上進行測量。半導體具有許多需要精確校準到納米級的層。計量學，或測量系統的研究和開發，已經包含了散射測量學，其性能優于即使是用強大的顯微鏡進行的成像疊加技術，工程師們也不用疊加圖像，而是將不同波長的光散射到半導體晶圓上，并使用軟件和算法測量它們的雙向反射系數，這樣就可以精確測量微小的失調，而不必依賴于不規則的顯微鏡光學或操作。
散射計技術允許通過仔細分析衍射光（與周期性散射表面的線型變化相比）對材料或表面進行快速、無損的分析。這項技術被放置在許多監測均勻雷達橫截面或"條帶"的衛星上地球表面的。再加上繪圖技術、通訊系統和其他氣象或搜救服務，這使得從土壤濕度到火山事件的一切都能在精確的尺寸變化中清晰地顯示出來。
雙向反射分布函數（BRDF）描述了光學、熱力學中實際表面的光反射的材料特性，和計算機科學。像圓頂散射計這樣的創新允許在多個入射角測量多個衍射，包括從天頂和方位角散射的光。這允許在讀取散射結構時更高的靈敏度，允許在更短的時間內獲取更多的數據。
- 發表于 2020-07-10 12:31
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- 分類：技術
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