什么是X射線衍射儀(X-Ray Diffractometer)？

晶體是具有規則重復圖案的細胞結構，存在于無機礦物和金屬中。不同的材料在暴露于可見光頻率或更高能量的x射線時具有特定的光學特性。x射線衍射儀產生x射線頻率的輻射或能量，并可用于研究晶體結構。衍射是指光或能量因...

晶體是具有規則重復圖案的細胞結構，存在于無機礦物和金屬中。不同的材料在暴露于可見光頻率或更高能量的x射線時具有特定的光學特性。x射線衍射儀產生x射線頻率的輻射或能量，并可用于研究晶體結構。衍射是指光或能量因與物質或液體相互作用而彎曲的術語。科學家用燒杯制作的x射線衍射儀包括幾個關鍵部件。x射線源包括一個源管和一個能產生狹窄的準直狹縫光束。樣品放置在樣品架中，與光源保持固定距離。探測器包括一個閃爍計數器，測量衍射能量。一些裝置增加了一個角度計，它是一個可移動的探測器，測量x射線能量的角度。當x射線頻率被發送到樣品時，它是根據材料以特定角度衍射的。這是由于x射線束與晶體結構相互作用造成的。光束彎曲并離開材料表面，然后可以用閃爍器測量。W.L.Bragg在20世紀早期開發了一種計算方法來定義角度，這成為解釋衍射數據的標準方法。X射線衍射可以用來描述晶體材料和金屬，因為很小的距離將晶體結構分開。X射線的能量具有與晶間間距相似的波長。因此，晶體結構會以可測量和一致的模式彎曲x射線能量。隨著材料暴露在x射線下，已經開發了一個數據庫來總結各種材料的特性。金屬、固體和一些液體具有特定的折射特性x射線衍射儀可用于確定已知礦物的性質，或通過參考庫幫助分析未知礦物。薄膜技術用于微電路的電子制造。薄膜沉積在固體基底上，x射線衍射儀可以用來進行質量控制，分析衍射角可以確定薄膜和基底界面的質量，具有晶體結構的材料在受力時會形成不同的分子結構，x射線衍射儀可以測量受力材料的差異將無應力晶體的參考標準與被測材料進行比較，可以用來測量應力，該技術可用于分析因老化或過載而失效的金屬零件。

發表于 2020-09-17 22:01
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分類：科學教育

什么是X射線衍射儀(X-Ray Diffractometer)？

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