什么是不同類型的掃描顯微鏡(Different Types of Scanning Microscopes)？

掃描顯微鏡有幾種類型，包括掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡。通常，掃描顯微鏡由探針或掃描樣品表面的電子束組成。掃描顯微鏡和樣品之間的相互作用產生可測量的結果數據，比如電流變化，探針偏轉，或二次電子的...

掃描顯微鏡有幾種類型，包括掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡。通常，掃描顯微鏡由探針或掃描樣品表面的電子束組成。掃描顯微鏡和樣品之間的相互作用產生可測量的結果數據，比如電流變化，探針偏轉，或二次電子的產生。這些數據用于在原子水平上產生樣品表面的圖像。Nurse掃描電子顯微鏡是用來給樣品成像的幾種掃描顯微鏡之一。顯微鏡檢測電子束相互作用產生的信號樣品表面的原子。通常會產生幾種類型的信號，包括光、x射線和電子。有幾種類型的電子可以用這種顯微鏡測量，包括透射電子、背散射電子和次級電子。通常，掃描電子顯微鏡有一個二次電子探測器，二次電子是從一次輻射源（即電子束）產生的移位電子。二次電子在原子水平上提供表面物理結構的信息。一般來說，這種顯微鏡能成像1-5納米的區域。利用探針的掃描顯微鏡，如掃描隧道顯微鏡，產生比掃描電子顯微鏡更高分辨率的圖像。掃描隧道顯微鏡的特點是一個非常靠近樣品的導電尖端。導電尖端和樣品之間的電壓差導致電子從樣品隧道到尖端。當電子交叉時，形成并測量隧道電流隨著導電尖端的移動，電流發生變化，反映出樣品表面高度或密度的差異。根據這些數據，可以在原子水平上構建表面圖像。原子力顯微鏡是另一種具有探針的掃描顯微鏡。它包括一個懸臂梁和一個放置的尖頭在樣品表面附近。當尖端接近樣品時，尖端和樣品之間的力導致懸臂梁偏轉。通常力包括機械接觸力、范德華力和靜電力。通常，用聚焦在懸臂梁頂面上的激光測量懸臂梁的撓度。撓度揭示了表面在特定點的物理形狀。移動樣品和探針掃描整個表面。根據激光獲得的數據構建圖像。